Δοκιμή ανάλυσης πλέγματος κάρτας Siemens Star Εισαγωγή

Η κάρτα δοκιμής ανάλυσης YE0133 αποτελείται από αστέρια της Siemens με 36 τομείς, κατακόρυφα και οριζόντια πλέγματα τοποθετημένα στην άκρη της κάρτας δοκιμής. Το πλέγμα έχει ανάλυση 0,625 Lp / mm στην κορυφή δεξιά και κάτω αριστερά και 1,25 Lp / mm στην κορυφή αριστερά και κάτω δεξιά.

Η κάρτα δοκιμής τοποθετείται σε φωτογραφικό χαρτί με υπερ ευαίσθητη βαθμολογία. Το φωτογραφικό χαρτί έχει αυτοκόλλητη ταινία. Επίσης, η κάρτα δοκιμής είναι στερεωμένη σε μια κάρτα πάχους 2 mm. Αυτό το πλέγμα δοκιμών παρέχει τη βάση για τον έλεγχο της ποιότητας γραφικών των οπτικών συστημάτων για κάμερες, φακούς, μικροφιλμ και επεκτατικούς εξοπλισμούς.